π±介子、k±介子、反质子、Σ±超子、μ±子(也包括e和p)和不带电的（即中性的）中子n、k介子、Λ超子、γ光子、j/粒子、μ子中微子vμ、电子中微子ve等等，都只能在粒子的相互作用中产生。
    对于高能粒子相互作用，一般可表示成以下形式：a+b→c+d+e+f+…，a为入射的高能粒子，b为静止的靶粒子（在ab对撞的情况下，a和b在质心系都为高能粒子），c、d、e、f等为a和b作用后产生的次级粒子。高能粒子探测的基本内容就是：记录次级粒子数目，确定次级粒子本身的性质(质量、电荷、寿命)以及确定次级粒子的运动量(能量、动量、飞行方向)。
    探测高能粒子的基本原理是依据带电粒子与物质原子的电离或激发作用，不同粒子有不同电离(和激发)强度与动量的关系曲线。现代的绝大多数探测器都是根据这个原理制成。带电粒子可以直接被探测器（如核乳胶、气泡室、流光室、多丝正比室；漂移室等）探测到，因此可直接测定其性质。
    而中性粒子不能使物质原子产生电离（或激发），因此必须通过间接方式来确定其性质，如通过探测其衰变的带电粒子或探测与物质作用产生的带电粒子。
    探测装置正在上
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